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Fischerscope XDLM菲希尔X射线镀层测厚仪
产品编号 : Fischerscope XDLM
FISCHERSCOPE®X-射线 XDL®和XDLM®光谱仪与 XUL 系列密切相关。主要组件(例如探测器,X射线管和滤波器组合)是相同的,但两者有一个显着的区别:XDL和XDLM设备是从上到下进行测量,这意味着可以方便地分析非平面样品-复杂形状不再是难题!
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产品描述
Fischerscope XDLM菲希尔X射线镀层测厚仪
菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY特点
能量色散X射线荧光光谱仪,自动进行材料自动分析和镀层厚度的无损测量,采用ISO 3497和ASTM B 568标准;
XDLM的最小测量点: 0.1毫米; XDL的最小测量点:约 0.2毫米
钨X射线管或钨微焦点管(XDLM)作为X射线源
经验证可用于快速测量的比例接收器探测器
固定或可更改的准直器
固定或可自动切换基本滤片
可选择手动或可编程的XY载物台;
开槽箱体设计用于测量大的印刷电路板
通过摄像头可轻松固定测量位置
经过认证的全面保护设备;
菲希尔镀层测厚仪应用
电镀锌镀层,例如铁上的锌层作为防腐层;
批量生产零件的系列测试
特殊钢成分的分析,例如 检测A4中的钼含量
装饰性镀铬层,例如Cr/Ni/Cu/ABS
测量印刷电路板上的功能性镀层,例如Au/Ni/Cu/ PCB或Sn/Cu/PCB
电子工业中连接器和触点上的涂层,如Au/Ni/Cu和Sn/Ni/Cu
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