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Fischerscope XDLM菲希尔X射线镀层测厚仪
- 产品编号 : Fischerscope XDLM
- FISCHERSCOPE®X-射线 XDL®和XDLM®光谱仪与 XUL 系列密切相关。主要组件（例如探测器，X射线管和滤波器组合）是相同的，但两者有一个显着的区别：XDL和XDLM设备是从上到下进行测量，这意味着可以方便地分析非平面样品-复杂形状不再是难题！
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产品描述
Fischerscope XDLM菲希尔X射线镀层测厚仪
菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY特点
- 能量色散X射线荧光光谱仪，自动进行材料自动分析和镀层厚度的无损测量，采用ISO 3497和ASTM B 568标准；
- XDLM的最小测量点： 0.1毫米; XDL的最小测量点：约 0.2毫米
- 钨X射线管或钨微焦点管（XDLM）作为X射线源
- 经验证可用于快速测量的比例接收器探测器
- 固定或可更改的准直器
- 固定或可自动切换基本滤片
- 可选择手动或可编程的XY载物台；
- 开槽箱体设计用于测量大的印刷电路板
- 通过摄像头可轻松固定测量位置
- 经过认证的全面保护设备；
- 电镀锌镀层，例如铁上的锌层作为防腐层；
- 批量生产零件的系列测试
- 特殊钢成分的分析，例如 检测A4中的钼含量
- 装饰性镀铬层，例如Cr/Ni/Cu/ABS
- 测量印刷电路板上的功能性镀层，例如Au/Ni/Cu/ PCB或Sn/Cu/PCB
- 电子工业中连接器和触点上的涂层，如Au/Ni/Cu和Sn/Ni/Cu
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