菲希尔X射线镀层测厚仪XAN215

产品描述

核心技术与特点

1. 检测系统
Si PIN 半导体检测器(带珀尔帖冷却)，分辨率≤180 eV，确保精确的光谱分离和测量精度
钨靶微焦点 X 射线管，提供稳定的 X 射线源
固定孔径(Ø1mm，可选 Ø2mm)，最小测量点直径约 1.2mm
2. 性能参数
参数 规格
元素检测范围 氯 (17) 至铀 (92)，同时测定 24 种元素
测量时间 标准测量约60 秒，快速模式约15 秒
测量精度 金合金分析重复性≤1‰
最大样品尺寸 高90mm，重 13kg
工作电压 三档可选：30kV/40kV/50kV
仪器尺寸 403×588×365mm，重约 45kg
3. 设计亮点
台式结构，向上开启的防护罩，操作便捷
底部向上测量设计，样品放置在透明窗口上
内置视频显微镜(带变焦和十字线)，精确对准测量点
大尺寸样品台(310×320mm)，可容纳多种形状样品
全防护设计，符合德国 X 射线防护法规 (RöV)