菲希尔X荧光射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

产品描述

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230作为一款通用型台式仪器，它以其高精度、长期稳定性和强大的无标样分析能力在电子制造、汽车工业、航空航天及电镀行业中被广泛用于质量控制。

核心特性与技术参数

• 测量原理：采用X射线荧光光谱法，能够无损地测定从氯(Cl)到铀(U)的元素范围，并可同时分析多达24种元素和23层镀层。

• 核心优势（FP法）：内置菲希尔基本参数法（FP法），即使没有标准片也能进行相对准确的测量和分析，这对于复杂或未知镀层尤其重要。

• 定位与观测：配备高分辨率CCD摄像头（40-160倍放大）和激光定位点，支持手动/自动聚焦，能精确定位微小的测量点。

• 测量灵活性（DCM技术）：采用DCM测量距离补偿法，允许在0-80mm的测量距离内进行检测，无需严格对焦，非常适合测量带有凹槽或腔体的复杂样品。

• 硬件配置：搭载钨靶X射线管（高压30/40/50kV三档可调）和比例接收器，标准配置φ0.3mm准直器，最小测量光斑可达约φ0.2mm。