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菲希尔FISCHERSCOPE XDL230
- 产品编号 : FISCHERSCOPE XDL230
- FISCHERSCOPE X-RAY XDL系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能全自动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪典型的应用领域有：
测量大规模生产的电镀部件
测量超薄杜策，例如：装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
全自动测量，如测量印刷线路板
分析电镀溶液
XDL 210 型的工作台为固定式工作台，固定位置的 Z 轴系统。
XDL 220 型的工作台为固定式工作台，马达驱动的 Z 轴系统。
XDL 230 型配有可手动操控的 X/Y 工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。
XDL 240 型则配备了马达驱动的 X/Y 工作台，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。
XDL系列仪器可选配圆形或长方形准直器，采用比例接收器，测量距离为0-80mm，使用**保护的DCM测量距离补偿法。
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