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菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
- 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
- 定位：德国 Helmut‑Fischer 台式 EDXRF 能量色散 X 射线荧光测厚仪，手动 XY 工作台 + 电动 Z 轴，用于镀层厚度无损检测、多层镀层分析、元素成分分析，广泛用于电镀、连接器、PCB、五金装饰镀层质控。
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产品描述
软件与算法 WinFTM
1. FP 基本参数法：支持无标样测量，新镀层工艺不用定制大量标准片；内置 MQ 值判定，判断测量模型和样品是否匹配，减少误测。
2. 支持多层镀层：Cr/Ni/Cu、Au/Ni/Cu、Zn‑Ni、PCB 化学镍金 ENIG 等多层结构解析。
3. 厚度地图扫描：区域多点扫描生成厚度分布云图，评估镀层均匀性。
4. 符合标准：ISO 3497、ASTM B568。
5. 数据导出、SPC 统计、报表输出。
典型可测镀层
- 装饰电镀：Cr、Ni、Cu；五金镀锌、锌镍合金
- 电子连接器：Au、Ag、Pd、Sn、Ni，端子微小区域测厚
- PCB：化学镍金 ENIG、电镀金、沉锡
- 基材：铜、铁、镍、ABS 塑料基材上多层镀层
精度参考：镀层≥0.5 μm 时顶层镀层误差≤5%；超薄金层可测几十 nm 级别（取决于光斑与测量时间）。
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