菲希尔X射线镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

产品描述

菲希尔X射线镀层测厚仪XDL 系列仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。 
典型的应用领域有：

•    测量大规模生产的电镀部件
•    测量超薄镀层，例如：装饰铬
•    测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
•    全自动测量，如测量印刷线路板
•    分析电镀溶液

XDL 系列仪器有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。

比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。

由于采用了 FISCHER 完全基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。