菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237

产品描述

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237核心概况

仪器类型：能量色散型 X 射线荧光光谱仪（EDXRF）

测量原理：X 射线荧光光谱法（XRF），无损检测

主要功能：

单层、多层镀层厚度测量（纳米至微米级）

合金成分分析与材料鉴别

电镀液浓度分析（选配）

定位：XDLM 系列型号，面向自动化批量检测与精密研发

核心优势

超高精度与灵敏度

可测纳米级超薄镀层（如 < 0.1 µm 的金、钯）

精准分析低浓度元素与复杂多层膜（如 Ni/Pd/Au、Cu/Ni/Cr）

全自动高效测量

电动 XY 台自动进出料，支持多点阵列、路径编程、批量扫描

测量、数据处理、报告生成全自动化，适合产线 QC

微区精准分析

最小 0.1 mm 光斑，专为电子元件（如 PCB 焊盘、连接器引脚）设计

无标样分析（FP 法）

菲希尔专有基本参数法，无需大量标准样品即可定量未知体系

大型样品兼容

机身 C 型开槽设计，可测量超宽 / 超长 PCB 等大尺寸扁平样品