菲希尔X射线测厚仪fischerscope x-ray xdlm231
- 产品编号 : fischerscope x-ray xdlm231
- 可用于测量所有金属镀层的厚度以及多镀层或者合金成分分析，也可以进行电解溶液含量成份分析，带有国家环保局豁免证书，无放射源设计，安全环保。主要用于微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层测量、分析。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪特点:
1、测量大规模生产的电镀零部件；
2、测量微小区域上的薄镀层；
3、测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层；
4、全自动测量，如测量印刷线路板。
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型号 项目 |
XDLM-231 |
XDLM-237 |
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通用规格 |
设计用途 |
能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) ，测量薄镀层和微小结构样品，分析合金组分 |
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元素范围 |
从元素氯 (17) 到铀 (92)，最多可以同时测定24种元素 |
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工作台 |
平台 |
固定式样品平台 |
马达驱动可编程X/Y平台 |
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可用样品平台 |
463mm x 500mm |
300mm x 350mm |
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X/Y平台最大移动距离 |
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255mm x 235mm |
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X/Y平台最大移动速度 |
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≤80mm/s |
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X/Y平台移动重复精度 |
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≤0.01mm（单向） |
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样品最大重量 |
20kg |
5kg，降低精度可达20kg |
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样品最高高度 |
140mm |
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电气参数 |
电原要求 |
AC 220V 50HZ |
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功耗 |
最大120W（测量头，不包括计算机） |
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保护等级 |
IP40 |
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环境要求 |
使用温度 |
10℃-40℃ |
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存储或运输时温度 |
0℃-50℃ |
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空气相对湿度 |
≤95%，不结露 |
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计算单元 |
计算机 |
Windows®-PC |
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软件 |
标准：Fischer WinFTM® BASIC 可选：Fischer WinFTM® PDM®，SUPER |
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尺寸规格 |
外部尺寸 |
570mm×760mm×650mm |
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内部测量舱尺寸 |
460mm x 495mm x146mm |
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重量 |
100kg |
120kg |
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1614751846
