菲希尔Fischer X射线测厚仪|荧光分析仪

产品描述

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220菲希尔X射线测厚仪是一款拥有着操作性能，产品设计紧凑以及普遍适用的x射线的测量仪器。 它们非常适合于无损涂层厚度测量和材料分析。该仪器非常适合于质量保证、来料检验和过程控制的测量。X射线荧光 镀层测厚及材料分析仪，采用手动方式，测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。

Fischerscope X-ray XDL210/220应用领域 

●测量小零件，如螺丝，螺栓和螺母 

●触点和电子元件的测量 

●电镀液成分的测定 

Fischerscope X-ray XDL210/220通过使用比例计数管实现高计数率，从而可以进行精确测量。出色的精度和长期稳定性是所有FISCHERSCOPEx射线 系统的特点。重新校准的必要性大大减少，节省了时间和精力。FISCHER的基本参数方法允许分析固体和液体样品以 及无需校准的涂层系统。The FISCHERSCOPE X-RAY XUL/XULM仪器被设计为用户友好的台式仪器。根据预期用途，不同的版本具有不同的支持阶段： 

●Fischerscope X-RAY XUL 210：固定样本支持 

●Fischerscope X-RAY XUL 220和XULM 240：可手动操作的XY工作台，用于小零件的精确定位 

●为了快速方便地定位样品，x射线源和检测器组件位于仪器的下腔中。 

●测量方向从样品下方开始，样品由透明窗口支撑。尽管这些仪器体积小巧，但它们配备了一个大的测量室。这样就可 以对较大的标本进行测量。 

●测量的整个操作和评估以及测量数据的清晰呈现是在PC上执行的，使用功能强大且用户友好的WinFTM®软件。 

●FISCHERSCOPE XUL 210, XUL 220和XULM 240仪器符合DIN ISO 3497和ASTM B 568。它们是完全受保护的仪 器，根据德国法规“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”进行型式认证。