特别是在测量涂层厚度时,确保设备和样品之间的距离保持恒定以及光束路径笔直非常重要。FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希尔X射线测厚仪的三点支架允许您安全稳定地设置设备,以精确测量涂层。菲希尔X射线测厚仪结果直接显示在设备显示屏上。
为了进一步进行数据评估,Fischerscope X-RAY XAN500配备了完整的WinFTM®软件套件。WinFTM的涂层厚度测量和材料分析均基于基本参数分析。这使得无需事先校准即可准确测量–即无标准。对于那些只有最高精度才能满足要求的场合,我们还提供DAkkS认证标准,使您能够快速、轻松地校准特定测量任务所需的设备。
Fischer X射线测厚仪Fischerscope X-RAY XAN500特点
通用手持式X射线荧光分析仪,即使材料组合困难复杂的情况下,也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准
重量1.9 kg
一次电池充电可持续运行6个小时
测量点:3毫米Ø
高分辨率硅漂移检测器
用于户外的IP54等级
用作台式设备的可选测量箱;
使用完整版WinFTM®软件进行数据统计