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Fischerscope X-RAY XAN220菲希尔X射线测厚仪
- 产品编号 : Fischerscope X-RAY XAN220
- 菲希尔X射线荧光测量仪用于金银合金快速无损分析及镀层厚度测量，菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XAN220是一种优化的X射线荧光测量仪器，用于珠宝、硬币和贵金属的无损分析。菲希尔X射线测厚仪它特别适合分析贵金属及其合金的成分和涂层厚度。在氯（17）到铀（92）范围内可同时测定多达24种元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。
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产品描述
Fischerscope X-RAY XAN220菲希尔X射线测厚仪
FISCHERSCOPE XAN220产品特点：
•菲希尔FISCHER XAN220型X射线金属材料分析仪为无损分析珠宝、钱币和贵金属特别优化设计；
•菲希尔X射线测厚仪配备固定的准直器和基本虑片，特别适用于贵金属分析
•配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，适用于更复杂的多元素分析
•由下至上的测量方向，可以zui简便地实现样品定位
FISCHERSCOPE XAN220菲希尔X射线测厚仪典型应用领域包括：
•珠宝、贵金属和牙科合金
•黄白色黄金
•铂和银
•铑
•合金和涂层分析
•多层涂层分析
FISCHERSCOPE XAN220技术参数
预期用途 能量色散X射线测量仪（ED XRF）用于分析贵金属及其合金的成分和涂层厚度。
元素范围 硫S（16）至铀U（92）–同时多达24种元素
重复性 对于金≤0.5‰，测量时间60秒
设计 台式单元，带有向上打开的罩
测量方向 自下而上
X射线管 带铍窗的微焦点钨管
高电压 3 steps：30 kV，40 kV，50 kV;大阳极电流：1 mA
光圈（准直仪） Ø 1 mm (39 mils), 可选Ø 2 mm (79 mils) or Ø 0.6 mm (23.6 mils)
测量点 Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放样品（测量距离0毫米）
预期用途 能量色散X射线测量仪（ED XRF）用于分析贵金属及其合金的成分和涂层厚度。
元素范围 硫S（16）至铀U（92）–同时多达24种元素
重复性 对于金≤0.5‰，测量时间60秒
设计 台式单元，带有向上打开的罩
测量方向 自下而上
X射线管 带铍窗的微焦点钨管
高电压 3 steps：30 kV，40 kV，50 kV;大阳极电流：1 mA
光圈（准直仪） Ø 1 mm (39 mils), 可选Ø 2 mm (79 mils) or Ø 0.6 mm (23.6 mils)
测量点 Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放样品（测量距离0毫米）
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