菲希尔便携式测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

产品描述

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

基于 XRF 技术：X 射线源激发样品产生特征荧光，探测器捕获其能量 / 强度，通过菲希尔基本参数法（FP） 可实现无标准片定量，测厚 + 成分同步分析；DCM 测量距离补偿技术支持 0–80mm 远距离对焦，适配复杂 / 凹腔样品；设备为台式手动机型，适合实验室与产线 QA / 进料检验 / 制程监控。

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230关键技术参数

X 射线源：带铍窗的钨靶 X 射线管，支持 30/40/50kV 高压，可配固定准直器 / 滤光片；最小测量点约0.2 mm；元素范围Cl(17)~U(92)

工作台：手动 XY 行程 95×150 mm，电动 Z 轴，样品高度 140 mm，承重 20 kg；机身 C 型槽可测超腔大型扁平样品（如大 PCB）

定位系统：激光指针 + 40–160 倍变焦 CCD 视频显微镜（十字线），可调 LED 照明

软件：WinFTM® 专业软件，控制、数据处理、统计、报表输出全流程，符合 ISO 3497、ASTM B568 等标准

安全与合规：联锁防护，开盖自动切断 X 射线；CE EN61010，RöV 辐射安全认证