菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

产品描述

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230独特功能特点

1. 灵活的样品定位系统

• 高分辨率 CCD 彩色摄像头 (带十字线和刻度)，放大倍数 40-160 倍

• 激光定位点辅助快速对准测量位置

• C 型开槽设计，可测量超出测量舱尺寸的大型平板样品 (如 PCB)

2. 优秀的测量技术

• DCM 技术：无需移动轴即可测量复杂形状样品，即使在 80mm 深度的腔体中也能精准测量

• 基本参数法：无需标准片即可分析镀层系统、固体和液体样品

• 比例计数器 (PC) 探测器：高计数率，确保高精度和快速测量

3. 软件支持

• 标配 WinFTM® LIGHT 软件，可选 BASIC/PDM/SUPER 版本

• 自动材料识别、多层镀层分析、统计功能 (平均值 / 标准差)

• 支持测量数据存储、报表生成和导出