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FISCHERSCOPE X-RAY XDAL菲希尔X荧光射线测厚仪
- 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
- FISCHERSCOPE X-RAY XDAL菲希尔X荧光射线测厚仪，FISCHERSCOPE X射线 XDAL是 XDL系列中最好的X射线荧光测量仪器。 和它的“小兄弟”一样，它是从上到下方向测量的，这使得测试形状奇怪的样品也变得轻松便捷，为了优化您的任务的测量条件，配有可互换的准直器和过滤器作为标准配置。
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产品描述
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL菲希尔X荧光射线测厚仪
Fischerscope X-RAY XDAL特点
- 采用DIN ISO 3497和ASTM B 568标准，用于自动测量达到0.05μm的镀层和用于ppm级含量的材料分析的通用X射线荧光光谱仪
- 3种不同的探测器可选（Si-PIN二极管；SDD 20 mm²；SDD 50 mm²）
- 3种可切换基本滤片
- 4种可切换准直器
- 最小测量点约为0.15mm
- 样品最高高度可达14cm
- 可编程XY工作台，定位精度为10µm
- 开槽箱体设计用于测量大的印刷电路板
- 经过认证的全面保护设备
- 镀层和合金（也包括薄涂层和低浓度）的材料分析
- 电子行业，ENIG，ENEPIG
- 连接器和触点
- 黄金，珠宝和制表业
- PCB制造薄金（几纳米）和钯镀层的测量
- 微量元素分析
- 高可靠性应用的铅（Pb）的测定（避免锡晶须）
- 对硬质材料涂层的分析
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