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FISCHERSCOPE X-RAY XAN菲希尔X射线测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XAN菲希尔X射线测厚仪
  • FISCHERSCOPE X-RAY XAN菲希尔X射线测厚仪

  • 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XAN
  • 和XUL系列一样,FISCHERSCOPE®X射线XAN®仪器非常适合分析简单形状的样品。然而,XAN系列的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光不仅可以测量镀层的厚度,还可以分析合金(例如铜)的成分。
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产品描述


菲希尔X射线fischerscope x-ray特点

  • 根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析,镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪

  • 半导体检测器(PIN和SDD) 确保出色的检测精度和高分辨率

  • XAN 250和252:用于测量铝,硅或硫之类的轻元素;

  • 准直器:固定或4种可切换,最小测量点约为0.3mm

  • 基本滤片:固定或6种可切换

  • 固定样品支架或手动XY载物台

  • 摄像头可轻松定位最佳测量位置

  • 样品高度最多17厘米;

菲希尔X射线仪应用

  • 牙科合金的无损分析,银测试

  • 多层镀层测试

  • 电子和半导体行业中厚度为10nm以上的功能涂层的分析

  • 消费者保护中的痕量分析,例如测试玩具中的铅含量

  • 根据珠宝业和炼油厂最高精度要求测量金属合金含量

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