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菲希尔XULM240 X射线测厚仪
- 产品编号 : XULM240
- FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240是德国 Helmut Fischer 公司生产的高精度 X 射线荧光测厚仪，专为微小部件镀层厚度测量和材料成分分析设计。其微聚焦技术可实现0.1mm的最小测量点，特别适合电子连接器、PCB 板和精密零件的无损检测。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240应用领域
电子行业
PCB 板镀层测量：Au/Ni/Cu、Sn/Cu 等
连接器和触点镀层(如手机、电脑主板)
汽车与五金
紧固件防腐镀层：Zn/Fe、ZnNi/Fe 等
装饰性镀层：Cr/Ni/Cu/ABS
其他领域
珠宝和手表行业的贵金属镀层
电镀液成分分析(测定金属含量)
医疗器械和航空航天零部件镀层检测
操作与软件
操作系统：Windows 电脑 +WinFTM 软件
测量流程：样品放置于工作台，调整焦距
通过摄像头定位测量点
选择合适的准直器和滤片
启动测量，软件自动计算并显示厚度
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