菲希尔X射线镀层测厚仪XAN215

产品描述

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款颇具性价比的入门级能量色散型 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。

它特别适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度。最多可同时测定24 种元素。

典型的应用领域有:

1. 珠宝、贵金属和牙科用合金分析
2. 黄金制品和K金制品分析
3. 铂金制品和银制品分析
4. 铑制品分析
5. 其他合金分析和镀层厚度测量
6. 多镀层厚度测量

正如所有的 FISCHERSCOPE XRAY 仪器一样，本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。

先进的 Si-PIN 接收器能够达到非常高的分析精度及探测灵敏度。

依靠 FISCHER 的完全基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。