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菲希尔XDL230 X射线测厚仪
- 产品编号 : XDL230
- FISCHERSCOPE X-RAY XDL230是德国菲希尔 (Helmut Fischer) 公司生产的一款能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXRF)，专为无损测量镀层厚度和材料成分分析设计。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230应用领域
PCB 与电子行业：
印刷电路板上金 / 钯等贵金属镀层测量
连接器和触点镀层检测 (Au/Ni/Cu、Sn/Ni/Cu 等)
电镀工业：
防护性镀层 (如铁上镀锌) 测量
装饰性镀层 (Cr/Ni/Cu/ABS 等) 检测
功能性镀层厚度控制
汽车与航空航天：
零部件镀层质量监控
满足航空航天、医疗器械等超精密应用需求
表面处理行业：
电镀液金属成分分析 (需选配附件)
镀层厚度均匀性检测
型号对比 (XDL 系列)
型号 XY 平台 Z 轴驱动 特点
XDL210 平面支撑台 固定 基础型号，适合简单样品
XDL220 平面支撑台 马达驱动 可调节测量高度
XDL230 手动 XY 台 马达驱动 手动操作灵活性 + 电动 Z 轴便利
XDL240 马达驱动 (自动进出) 可编程马达驱动 全自动设计，适合生产线
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