菲希尔 X射线测厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

产品描述

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心技术规格

X 射线系统：钨靶 X 射线管（铍窗）；高压 30/40/50 kV 三档可调；标配 φ0.3 mm 圆形准直器，可选 φ0.1/0.2 mm 及 0.3×0.05 mm 矩形；比例接收器，DCM 测量距离补偿（可测 80 mm 深度腔体）

元素与镀层：Cl (17)~U (92)；最多 24 元素、23 层镀层；厚度≥0.5 μm 时顶层精度≤5%

样品台与定位：手动 XY 行程 95×150 mm，台面 420×450 mm；电动 Z 轴行程≥140 mm（自动 / 手动聚焦）；40–160× 视频显微镜 + 激光点定位，CCD 彩色摄像头实时监控

软件与电气：WinFTM® V6 LIGHT（可选 BASIC/PDM/SUPER）；电源 220 V 50 Hz，功耗≤120 W（不含电脑）；尺寸 570×760×650 mm，重量 107 kg；IP40 防护；工作温度 10–40°C，湿度≤95% 无结露

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菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230关键功能优势

FP 基本参数法：内置 12 种纯元素谱库，无需标准片快速测量

MQ 值校验：提示测量程序与样品匹配度，减少误判

长样品开槽：测量箱底部开槽，支持超箱体扁平样品（如大型 PCB）

DCM 补偿：远距离对焦，适合深腔 / 凹陷件，无需拆件

数据追溯：WinFTM 可生成报表、导出数据，满足 ISO / 客户审核