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菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB220
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB220
  • 菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB220

  • 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB220
  • 菲希尔X射线测厚仪可用于测量所有金属镀层的厚度以及多镀层或者合金成分分析,也可以进行电解溶液含量成份分析,带有国家环保局豁免证书,无放射源设计,安全环保。主要用于微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层测量、分析。
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产品描述



微聚焦X射线管配合比例接收器能够产生高计数率信号,以此造就了高精度的测量。出色的准确性及长期的稳定性是FISCHER X射线仪器的共有特点,因此也大大减少了重新校准仪器的需要,为您节省时间和精力。

依靠FISCHER所采用的的完全基本参数法,可以在没有标准片校正的情况下分析固、液态样品及测量样品的镀层厚度。

XDLM-PCB 220配备了可电动切换的多种准直器和基本滤片,让每次测量都可以在优化的条件下进行,满足各种测量需求。

XDLM-PCB 220是用户界面友好的台式测量仪器。测量门底部留有空隙,以方便对大面积印制电路板的测量。仪器样品定位简便,配备了高精度、可编程的XY平台,并带有弹出功能。激光点作为辅助定位,能帮助快速对准测量位置。配备了高分辨率彩色摄像头,使得对准测量位置的过程更加准确、简便。


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