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FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB菲希尔镀层测厚仪
- 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB
- FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB菲希尔镀层测厚仪，在需要高可靠性的应用中，印刷电路板是质量关键性的部件。在这种情况下，要采用符合ENIG和ENEPIG工艺的涂层。由于这些工艺中最薄的涂层厚度在40至100纳米之间，比例计数管的精度已不足以监测该工艺。这时FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB就是正确的选择。高灵敏度的硅漂移检测器（SDD）和多毛细管光学器件的结合，可以对尺寸小于50微米的结构进行精确测量。
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产品描述
FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB菲希尔镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB
- 用于标准应用的钨靶微聚焦射线管
- 4个可切换的准直器，以优化测量条件
- 3种可切换的滤波器，为更复杂的任务提供更好的激发条件
- 最小的测量点约Ø0. 15 mm
- 比例计数管接收器，用于分析从钾(19)到铀(92)的元素
- 手动抽拉式或可编程的自动测量平台，用于印刷电路板，最大尺寸610 x 610 mm (24" x 24")
- 最大样品高度。5毫米
- DCM方法，用于简单快速地调整测量距离
- 根据德国辐射防护法，作为受保护的仪器进行单独验收
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB
- 钨靶或铬靶微聚焦射线管
- 4个可切换的准直器，用于优化测量条件
- 3种可切换的滤波器，用于更复杂任务的最佳激发条件
- 最小的测量点Ø约0。 15 mm
- 硅漂移检测器（SDD）用于分析从铝（13）到铀（92）的元素
- DCM方法用于简单而快速地调整测量距离
- 手动抽拉式平台，适用于610 x 610 mm (24" x 24")的印刷电路板
- 最大样品高度为10 mm
- 根据德国辐射防护法，作为保护的仪器进行单独验收
- 钨靶或钼靶的微聚焦射线管
- 4种可切换的滤波器，用于更复杂任务的最佳激发条件
- 多毛细管光学器件，用于非常小的测量点约Ø20或10微米
- 硅漂移探测器（SDD），用于分析从铝（13）到铀（92）的元素
- 可编程测量平台，可选择带真空平台的FLEX PCB
- 最大样品高度< 4-5毫米
- 根据德国辐射防护法，作为保护仪器进行单独验收
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