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菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237
- 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237
- FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237 是德国 Helmut Fischer 公司推出的能量色散型 X 射线荧光 (EDXRF) 测量仪，专为 ** 超薄涂层 (≤0.1μm)** 的无损测量与材料分析设计，配备可编程 XY 工作台与电动 Z 轴，适用于质量保证和生产监控中的自动化测量任务。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237关键功能特点
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超薄涂层测量能力：特别适合 **<0.05μm** 的极薄涂层测量，可分析 ppm 级痕量元素
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自动化测量：保护罩打开时工作台自动移至装载位置，支持按程序自动扫描样品表面
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智能定位系统：激光辅助快速对准，视频显微镜实时监控测量位置，测量点大小在图像中直观显示
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高精度与稳定性：菲希尔基础参数法 (FP) 支持无校准分析，减少重新校准需求，降低操作成本
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灵活样品适配：C 型槽设计可测量超出腔室的大平面样品 (如 PCB 板)，样品高度 140mm
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多涂层分析：可精确测定复杂多层涂层系统，满足电子行业严苛要求
典型应用领域
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电子与半导体行业：引线框架、连接器、PCB 板上 Au/Pd 等超薄镀层 (数纳米级) 测量，焊料中铅含量检测
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精密制造：功能涂层分析 (如 TiN 硬质涂层)，刀具、模具表面处理质量控制
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珠宝与贵金属：黄金、铂金饰品的镀层厚度与成分分析，符合金标认证要求
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质量控制：来料检验、生产过程监控、研发项目中的材料分析与薄镀层检测
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特殊应用：根据 RoHS 指令检测电子元器件中铅含量 (>3%)，分析 NiP 镀层中磷含量 (SDD 版)
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