菲希尔X射线测厚仪
在无损无接触的涂层厚度测量和材料分析领域,FISCHERSCOPE X射线仪器是理想的选择。自1983年以来,我们的X射线仪器已成为几乎所有主要行业质量测试的一个组成部分。我们的仪器以其精确性、准确性和耐用性而闻名。同时,FISCHERSCOPE X射线的设计易于使用,并在测量的各个方面为您提供支持。 这使您可以专注于手头上的质量工作,而不是测量仪器上。
菲希尔X射线测厚仪德国设计:技术先进
一个软件实现镀层厚度测量和材料分析两个功能
扩展统计功能。例如,测量结果可以记录并转为SPC图表显示
图像识别:WinFTM可以自行查找预设的测量位置
基于基本参数分析的无标准片测量:在手边样本组成未知的情况下实现精确的测量结果
菲希尔X射线测厚仪距离控制测量(DCM):无需移动轴即可保持与不规则形状样品的正确测量距离。只需将摄像头聚焦到样品表面即可。剩下的由WinFTM软件完成。这要比移动轴快。此外,没有轴与样品碰撞的风险
菲希尔X射线测厚仪测量质量:我们的仪器可以判断您的测量质量。错误地选择了错误的测量任务或测量了错误的样品?您的FISCHERSCOPE仪器会提醒您
菲希尔X射线测厚仪任务程式:只需单击一下,几乎可以对WinFTM软件中执行的所有操作进行编程并执行。例如,一项任务可以自动测量多个合金样品。 X射线仪器将XY工作台移动到样品位置,加载每个合金特定的测量条件,最后根据您的需要生成测试报告