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FISCHER 荧光射线测厚仪 XDLM237
- 产品编号 : 菲希尔X射线测厚仪
- 菲希尔 XDLM237 是德国 Helmut Fischer 公司推出的FISCHERSCOPE® X-RAY XDL系列型号，是一款能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 镀层测厚与材料分析仪器，特别适合自动化测量场景，遵循 ISO 3497 和 ASTM B 568 国际标准。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237技术参数
参数类别 规格详情
X 射线源 钨靶微聚焦管，最高 50kV/50W，测量光斑最小约Ø 0.1mm
探测器 比例计数管，测量时间短，计数率高，保证小光斑下的测量精度
准直器 / 滤波器 4 种可切换准直器 (0.05×0.05mm 至 0.3mm)，3 种可切换初级滤波器
工作台行程 XY 轴可编程自动移动，Z 轴马达驱动，样品最大高度可达140mm
定位系统 集成高分辨率彩色摄像头 (带变焦和十字准线)+ 激光指示器，快速精确对准测量点
样品兼容性 带 C 型槽防护罩，可测量大而平的样品 (如大型 PCB)，无需完全放入测量室
软件平台 WinFTM® 软件，支持快速测量、高效评估和专业数据记录，可选配 BASIC/PDM/SUPER 版本
测量方法 基本参数法 (FP)，无需大量标准样品即可分析未知涂层系统
测量范围 可测量从氯 (Cl, Z=17) 到铀 (U, Z=92) 的元素，适用于多层涂层系统
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