Fischerscope X-ray XDAL600菲希尔X射线测厚仪

产品描述

菲希尔X射线Fischer X荧光射线测厚仪特点

• 菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪采用DIN ISO 3497和ASTM B 568标准，用于自动测量达到0.05μm的镀层和用于ppm级含量的材料分析的通用X射线荧光光谱仪

• 3种不同的探测器可选（Si-PIN二极管；SDD 20 mm²；SDD 50 mm²）

• 3种可切换基本滤片

• 4种可切换准直器

• 最小测量点约为0.15mm

• 样品最高高度可达14cm

• 可编程XY工作台，定位精度为10µm

• 开槽箱体设计用于测量大的印刷电路板

• 经过认证的全面保护设备

菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪应用

• 菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪镀层和合金（也包括薄涂层和低浓度）的材料分析

• 菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪电子行业，ENIG，ENEPIG

• 连接器和触点

• 黄金，珠宝和制表业

• PCB制造薄金（几纳米）和钯镀层的测量

• 微量元素分析

• 高可靠性应用的铅（Pb）的测定（避免锡晶须）

• 对硬质材料涂层的分析