Fischerscope X-RAY XDV®-SDD菲希尔测厚仪

产品描述

Fischerscope X-RAY XDV®-SDD菲希尔测厚仪

菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY特点

• XRF分析仪，用于超薄镀层 (<0.05μm) 的自动测量和低于每密耳范围的精细材料分析，符合ISO 3497 和 ASTM B 568 标准
• 带钨靶的微聚焦射线管
• 4个可切换的准直器，用于优化测量条件
• 6种可切换的滤波器，为更复杂的测量任务提供最佳的激发条件
• 极其强大的硅漂移探测器 (SDD) ，具有50 mm²的超大有效面积
• 数字脉冲处理器 DPP+ ，用于提高计数率，减少测量时间或提高测量结果的重复性
• 分析从 Al(13) 到 U(92) 的元素
• 样品高度可达 14cm
• 高精度、可编程的 XY 平台，定位精度 < 5 µm，用于小结构的自动测量
• 采用DCM方法，可简单、快速地调整测量距离
• 受保护的仪器，根据现行的辐射保护法规获得型号认证

1. 测量电子和半导体工业中功能性镀层，例如，低至2nm的金镀层的厚度测量
2. 分析电子和半导体行业的薄镀层和极薄镀层，例如 ≤0.1µm 的 Au/Pd 镀层
3. 测定复杂的多层系统
4. 测量硬质材料涂层
5. 光伏行业的涂层厚度测量
6. 根据RoHS、WEEE、CPSIA和其他电子产品、包装和消费品的指令，对铅和镉等有害物质进行痕量分析
7. 黄金和其他贵金属及其合金的分析和真实性测试
8. 直接测定功能性NiP镀层中的磷含量。