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Fischerscope XDAL600菲希尔X射线测厚仪
- 产品编号 : Fischerscope XDAL600
- Fischerscope XDAL600菲希尔X射线测厚仪，FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 是一款用户友好的XRF台式仪器，用于镀层厚度测量和材料分析。它的特点是紧凑，实用的设计，但仍包含了符合预期的精密XRF测量部件。 测量薄镀层(≤ 0.1）μm，精确、快速、无损。此外，对具有复杂成分或低浓度的XRF分析也能轻松实现。由于DCM（距离控制测量）方法，即使是复杂几何形状样品的镀层厚度测量和材料分析也非常简单。
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产品描述
Fischerscope XDAL600菲希尔X射线测厚仪
菲希尔X射线测厚仪Fischerscope XDAL600特征
- XRF测试仪器符合 X射线标准 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568
- 无损测量≤ 0.1 µm (0.004 mils) 的超薄镀层的镀层厚度及材料分析
- 4x 可切换的准直器 (collimator): Ø 0.1 mm (3.9 mils), Ø 0.3 mm (11.8 mils), Ø 1 mm (39.4 mils), Ø 3 mm (118 mils)
- 3x 可切换的初级滤波器
- 手动可调节样品台（剪叉式升降台），方便快速放置样品
- 由于其紧凑的设计，XRF仪器重量轻，只需要很少的空间
- 作为定位辅助的激光指示器能帮助快速找准样品
- 高分辨率彩色摄像机简化了测量区域的精确定位
- 通过用户友好的Fischer WinFTM软件操作、评估测量并清晰显示测量值
- Scissor Table FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600 XRF Analyzer
- Scissor Table FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600
- 电子和半导体行业中引线框架、连接器或印刷电路板上的功能镀层
- 复杂多层镀层结构的测量
- 焊锡中铅含量的测量
- NiP镀层中磷含量的测量
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