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泰勒轮廓仪代理Form Talysurf PGI 840
泰勒轮廓仪代理Form Talysurf PGI 840
  • 泰勒轮廓仪代理Form Talysurf PGI 840

  • 产品编号 : Form Talysurf PGI 840
  • FomTalysuriPG1840型粗糙度轮廓仪有一200mm水平行程的驱动箱,该驱动箱可沿立柱在450mm范围内垂直移动,以适应不同高度工件的测量。驱动箱内带有很高直线度精度的水平基准,以保证测量精度
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产品描述


FormTalysurf PG1840型粗糙度轮廓仪

FomTalysuriPG1840粗糙度轮廓仪有一个200mm的水平驱动箱,可以在450mm范围内沿立柱垂直移动,以适应不同高度工件的测量。传动箱内有一个高线性精度的水平基准,以保证测量精度。驱动盒下面有一个PGI传感器,量程大,分辨率高。该传感器配有测量针。测量时,测针工作时,测针接触工件表面,水平移动。测针的上下摆动通过传感器传到电箱和电脑,电脑软件进行分析,结果由打印机打印出来。仪器各轴的运动可由操纵杆或计算机控制。

精密加工机床,如单点金刚石车床,使小公差非球面透镜的加工成为可能,波前差减小到可以忽略不计的值。为了获得这种高水平的准确性,有必要进行相应水平的测量。form talent pgi840具备所需的各种功能,测量系统的测量结果可以直接输入机床,形成“反馈回路”。可根据用户需要设计专用探头,使PGI 840的应用范围更广。



功能描述:

        FormTalysurf PGl840型粗糙度轮廓仪是一台英国泰勒霍普森公司生产的专门用于各种光学零部件表面的形状误差测量和粗糙度分析,包括:平面、球面、非球面以及衍射光学表面轮廓测量。其主要功能如下:
1、形状误差测量,包括非球面形状误差测量、直线形状误差(直线度)和圆弧。
2、轮廓测量,包括半径和角度分析;
3、表面粗糙度测量。该系统具有与大多数光学加工设备接口能力的优化处理可以将测量数据应用于加工设备




主要特点:

 120 mm的驱动箱具有0.25 μm  120 mm 的直线度 
• 8mm的量程,0.8nm的垂直分辨率 
• 使用120mm长的测针臂量程可达到16mm 
• 系统的低噪音(RMS 仅为2nm)为市场提供了L先的光学表面粗糙度的测量能力.





PGI 840 - 杰出的新一代仪器

PGI 840具有行业L先的规格

Form Talysurf在过去20年中不断发展,为我们的客户提供持续改进。

PGI 840 非球面测量系统为以下应用提供了新的性能水平:

用于塑料或玻璃光学元件的金刚石车削或超精密磨削模具
•用于激光应用的非球面镜
•数码相机,投影仪等
•红外和衍射光学元件,直径达120毫米


  

Form Talysurf PGI 840专为光学行业开发。 制造的每个方面

都达到了高水平,从而实现了优秀的系统性能。
•120mm驱动装置,直线度0.25μm,120mm
•8mm量程,0.8nm垂直分辨率
•120mm测针臂可实现16mm测量范围 
•2nm RMS系统噪声提供优秀的光学表面光洁度测量功能 

•广泛的可选配件,包括适用于要求苛刻的应用的测针



非球面分析软件


Taylor Hobson推出的Aspherics分析软件融合了许多专

为满足Aspherics Optics制造商的需求而设计的新功能,包括:


• Aspheric Form Analysis
• User Selectable Radius Optimisation and 
λs Filter
• Report Generation Capability
• SAG Tables
• Astigmatism Analysis
• Derived Coefficients Module (optional)
• Asphero-Diffractive Analysis (optional)



旨在满足研究和生产需求 

精密加工机床,如单点金刚石车床,制造公差要求小的非球面。
透镜的加工变得可能,并且波前差减小到可以忽略的值。为了获得
这种高层次的精度,必须在相应的层次上来衡量。Talysurf PGI 840
它具有所需的各种功能,并且该测量系统的测量结果可以直接输入机床。
进而形成“反馈回路”。可根据用户要求设计特殊探头,使PGI 840
其应用范围更广。




PGI840规格:

水平性能
驱动长度
120 mm / 0.1 mm (4.7 in / 0.004 in)
测量速
0.1 mm/s, 0.25 mm/s, 0.5 mm/s & 1 mm/s
驱动速度
10 mm/s max (0.39 in/s max)
x轴上的*小数据取样间隔(高)
0.125 µm over 120mm length (5 µin over 4.7 in length)
x轴上的*小数据取样间隔(标准)
0.125 µm [ 0.1 mm to 15 mm length ] ( 5 µin [0.004 in to 0.6 in] )
0.25 µm [ 15 mm to 30 mm length ] ( 10 µin [0.60 in to 1.2 in] )
1 µm [ 30 mm to 120 mm length] ( 40 µin [1.20 in to 4.7 in] )

traightnesserror[Pt](X = length) 2
250nm/120mm or [50 + 1.7X] nm (10µin/4.7in or [2 + 1.7X] µin)
垂直性能
标称量程(Z)
8mm [ 60mm stylus arm] (0.31 in [2.36 in] )
16mm [120mm stylus arm] (0.62 in [4.72 in] )

分辨率(Z) 3
0.8nm 8mm range (0.03 µin 0.31 in) range
量程与分辨率的比率
10,000,000 : 1
测针臂长度,针尖尺寸,测力

60mm arm, 2µm radius conisphere diamond stylus, 1mN force
120mm arm, 0.5mm radius ball, 20mN force

Z 轴非线性 (Z=传感器位移)
(0.07 + 0.03 Z [mm] ) µm (3 + 30 Z [inches] ) µin - 校准后
Z轴示值重复性(平面-金刚石测针)
0.1 µm (4 µin)
Z轴示值重复性(曲面-金刚石测针)
0.08 µm (3 µin) 
Z轴示值重复性(曲面-球形测针)
0.12 µm (4.5 µin)
标定pt
0.2μm (8μin)





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