
单次测量同时获取涂层厚度与材料成分数据,无需重复操作
特别适合多层涂层 (如 ZnNi/Cu/Ni/Cr) 与合金涂层 (如锌镍合金) 的精确分析Helmut Fischer
可区分不同元素组成的镀层,准确测量各层厚度与成分比例
3 点式支撑设计:确保仪器放置准确,测量过程稳定,获得高度可重复的结果Helmut Fischer
SDD 探测器:提供超高能量分辨率,即使对复杂镀层结构也能精准分析Helmut Fischer
相比普通便携式 XRF 设备,在涂层厚度测量方面具有显著精度优势
轻量化机身(1.9kg):长时间手持操作不易疲劳,适合现场测量
IP54 防护等级:防尘防水,可在恶劣工业环境中使用
电池续航长达 6 小时,满足全天工作需求
可在难以到达的位置进行测量,解决样品无法放入常规设备的问题
WinFTM® 软件:直观操作界面,强大的数据管理与分析功能
支持自定义测量程序,适应不同应用场景
可快速生成专业测量报告,便于质量追溯与管理
数据可轻松导出至 PC,支持进一步分析与存档