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FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希尔
产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XAN500
凭借其 FISCHERSCOPEX-RAY XAN500,Fischer 菲希尔X射线镀层测厚仪提供了一种针对合金涂层厚度测量和材料分析进行优化的移动x射线荧光(XRF)设备。尽管它的体积小, XAN500 菲希尔X射线测厚仪是等同的任何XRF仪器,一个可能会发现在实验室。其现代化的硅漂移检测器(SDD)保证在几秒钟内获得正确的测量结果。即使是涉及多层和各种合金的复杂测量任务,也能可靠地解决。特别是在测量涂层厚度时,保证器件与样品之间的距离恒定和光束路径的直线是非常重要的。XAN500的三点支撑使您可以安全稳定地设置设备......
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产品描述
为了进一步的数据评估,菲希尔X射线镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN500配备了完整的WinFTM软件套件。使用WinFTM进行涂层厚度测量和材料分析都是基于基本参数分析。这使得无需事先校准即可准确测量-即无标准。
菲希尔X射线镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN500
对于那些只有最高精度才足够的场合,我们还提供dakks认证的标准,可以快速轻松地为您的特定测量任务校准设备。
菲希尔X射线镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN500
特性
●体重1.9公斤
●测点:3mmØ
●硅漂移检测器
●钨x射线管,最大40kV4 w
●WinFTM®BASIC,或WinFTM®SUPER with
●10英寸超级本(可选)
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