菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY XAN252特点:
◆ 具有通用应用特性的高级模式
◆ 4 倍电子调节光圈(准直仪),6 倍电子调节初级滤光镜
◆ 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD) 的型号还适用于更复杂的多元素分析
◆ 由下至上的测量方向可以最简便地实现样品定位
菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY典型应用领域:
◆ 对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能层进行分析
◆ 示踪原子法分析为消费者提供保护,例如,玩具中的铅含量
◆ 在珠宝行业和手选工段中高精度要求的金属合金鉴定
◆ 在高校和工业领域中的研究