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FISCHERSCOPE X-RAY XULM X射线测厚仪
- 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XULM
- 菲希尔X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量，同时也适于进行元素分析。 可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。
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产品描述
菲希尔X射线荧光镀层测厚仪无锡骏展仪器供应X-RAY XULM系列简介
为了使每次测量都能在条件下进行，XULM配备了可电动调整的多种准直器及基本滤片。
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。
FISCHERSCOPE X-RAY XULM型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。
本款仪器特别适合用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有：
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微小零部件、接插件和线材上镀层厚度的测量
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印制线路板上手动测量
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珠宝手表业中的镀层厚度测量及成分分析
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