通用手持式X射线荧光分析仪,即使材料组合困难复杂的情况下,也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准
重量1.9 kg
一次电池充电可持续运行6个小时
测量点:3毫米Ø
高分辨率硅漂移检测器
用于户外的IP54等级
用作台式设备的可选测量箱;
使用完整版WinFTM®软件进行数据统计
无锡骏展仪器有限责任公司起源于美国,英国,德国和其他地区的合作伙伴,与全系列的产品资源和服务,光学仪器、测量仪器、无损检测、实验仪器、分析仪器、测量工具测量工具和其他类型的测试设备,努力为客户解决快速分析的测量技术挑战,联合提供定制化精密测量和性能分析系统解决方案,有效推动企业实现既定目标。