SURTRONIC25泰勒霍普森粗糙度仪仅手掌大小,可携带到任何需要测量表面粗糙度的地方。SURTRONIC25泰勒霍普森粗糙度仪设计独特的探头支架可轻易使探头和被测工件表面稳定接触。内置电池驱动,在操作过程中微型电源。测量通过按键控制,采用菜单选择方式,简单易行。测量结果可输出打印,或与DPM数据处理器连接。测量值在行程结束后2秒钟自动显示。可选择多种探头和附件以满足各种形状工件的测量。
泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC 25技术参数
测量范围:±150μm
分辨率:10.0nm
行程长度:*大25.4mm/*小0.254mm
测量参数:Ra、Rq、Rzdin、Ry、Sm、Rt
测量精度:2%+LSDμm
输出:打印机,可打印测量条件、测量结果和图形
泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC 25探头
标准探头-- 用于一般测量,测尖半径5um
小孔探头-- 用于小孔槽和狭小平面
小槽探头-- 测量深大5.5mm的O型环槽和狭槽
沟槽探头-- 测量深大5.7mm和25mm的沟槽底部或台阶底部
直角探头-- 在与行程方向成直角的方向上测量
侧面导块探头-- 用于测量例如齿面等曲面