泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC 3+技术参数:
测量范围 |
±150μm |
分辨率 |
0.01μm |
测量行程 |
25.4mm |
测量行程(zui小值) |
0.25mm |
传感器类型 |
可选换 |
测量速度 |
1mm/S |
测针 |
112/1502标准测针 |
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取样长度 |
0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm |
参数精度 |
2%读数精度+LSDμm |
测量参数 |
Ra, Rq, Rz, Ry, Sm, Rt, |
主机电源 |
电池或接线电源 |
选用参数 |
Pc(用于代替Rq) |
WINDOWS界面图形分析 |
Waviness+Roughness 曲线分析图 |
数据处理器参数 |
Ra,Rv,Rq,Rp,Ry,Rz,RzJISIr, |
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微机处理参数 |
粗糙度参数
波纹度参数
示滤波参数
RK参数
R+W参数 |
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主机尺寸 |
130*80*65mm |
主机重量 |
450g |
数据处理机 |
185*140*50mm |