SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪

产品描述

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO核心特点

1. 分体式设计

• 显示控制单元与驱动单元通过滑锁机制分离，操作者可手持显示端远程测量难以触及位置

• 2.4 英寸彩色 LCD 显示屏，直观显示测量结果和轮廓图形taylor-hobson.com

• 蓝牙无线连接，操作距离可达数米

2. 高精度测量

• 测量范围：Ra: 0-40μm；Rz/Rv/Rp/Rt: 0-199μm

• 分辨率：0.01μm (0.4μin)，满足高精度测量需求taylor-hobson.com

• 精度：读数的 ±(5% + 0.1μm)，重复性误差≤2%

• 采用金刚石测针（半径 5μm），耐磨性强，确保长期测量精度

3. 多功能参数测量

• 基本参数：Ra (算术平均粗糙度)、Rz (十点高度)、Rp (最大波峰高度)、Rv (最大波谷深度)、Rt (轮廓总高度)

• 高级参数：Rsk (偏度)、Rku (峰度)、Rq (均方根粗糙度)、Rz1max (最大单一高度)

• 符合ISO 4287 粗糙度标准，数据可直接用于国际质量认证taylor-hobson.com

4. 便捷操作与耐用性

• 充电电池供电，支持 USB 充电，适合现场长时间测量taylor-hobson.com

• 橡胶化外壳，耐冲击，适合工业环境使用

• 内置校准功能，一键校准，确保测量准确性

• 测针保护设计，不使用时可置于 "Park" 位置保护金刚石测针